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半导体参数测量仪

品名

半导体参数测量仪

型号

4200

制造商

美国Keithley公司

所属单位

中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所

主要功能

电学DC和PIV测试

技术指标

1、具有4个中功率源测量单元,1个大功率测量单元,内置脉冲发生器和内置示波器及电容电压测试模块。最大可提供电压200V、电流1A,并且配置3个前置放大器,使得电流分辨率提高到0.1fA,精度达到10fA;

2、内置的双通道脉冲发生器的最小脉宽为10ns,可输出最大电压幅值为40V;

3、电容测试最大扫描电压为40V,可变频率范围为20Hz~1MHz,可测量范围为1fF ~ 100nF。SUSS PM8光电磁全屏蔽高精度分析探针台漏电流小于20fA。

设备现状

正常

收费标准

按时间收费   400元/小时

管理员

田飞飞

联系方式

62872594,fftian2009@sinano.ac.cn

设备照片

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