品名
飞行时间二次离子质谱仪
型号
SurfaceSeer
制造商
Kore Technology Limited
所属单位
中国科学院上海应用物理研究所
主要功能
SurfaceSeer型TOF-SIMS主要由初级离子枪、延迟提取系统、电荷中和系统、TOF分析器、真空泵四个模块组成，同时增加了深度剖析、光学观测、化学地图和二次电子检测功能，具有：（1）单层表面信息分析；（2）全元素检测；（3）高灵敏度有机物识别、分析；（4）快速化学成像；（5）样品深度剖析等特点。SurfaceSeer型TOF-SIMS拥有功能强大的样品处理装置，提供各种样品支架，可装载不同厚度和直径的样品；能如同检测已知样品那样方便地检测未知样品；储存的数据可用于溯源性分析，允许数据分析和样品化学构成信息之间的交互提取、比较。
技术指标
1、质量数：1-1000amu
2、深度分辨率：1.4nm
3、主离子枪能量：0-25KeV可调
4、空间分辨率：0.5mm
5、检测限：1：107
6、质量分辨率：2000M/ΔM
7、质量数精度：0.56mamu
设备现状
正常
收费标准
3000元/样
管理员
汪雪
联系方式
39194775
设备照片
