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飞行时间二次离子质谱仪

品名

飞行时间二次离子质谱仪

型号

SurfaceSeer

制造商

Kore Technology Limited

所属单位

中国科学院上海应用物理研究所

主要功能

SurfaceSeer型TOF-SIMS主要初级离子枪、延迟提取系统电荷中和系统TOF分析器、真空泵四个模块组成,同时增加了深度剖析、光学观测、化学地图和二次电子检测功能,具有:(1)单层表面信息分析;(2)全元素检测;(3)高灵敏度有机物识别、分析;(4)快速化学成像;(5)样品深度剖析等特点。SurfaceSeer型TOF-SIMS拥有功能强大的样品处理装置,提供各种样品支架,可装载不同厚度和直径的样品;能如同检测已知样品那样方便地检测未知样品;储存的数据可用于溯源性分析,允许数据分析和样品化学构成信息之间的交互提取、比较。

技术指标

1、质量数:1-1000amu

2、深度分辨率:1.4nm

3、主离子枪能量:0-25KeV可调

4、空间分辨率:0.5mm

5、检测限:1107

6、质量分辨率:2000M/ΔM

7、质量数精度:0.56mamu

设备现状

正常

收费标准

3000元/样

管理员

汪雪

联系方式

39194775

设备照片

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