品名
透射电子显微镜 (Transmission Electron Microscope)
型号
Tecnai F20
制造商
美国FEI公司
所属单位
中国科学院宁波材料技术与工程研究所
主要功能
透射电子显微镜用来研究各种材料的物质内部显微结构，配合能谱仪附件可以对各种元素进行微区成分分析，提供了从微米直到原子尺度直接观察形貌、界面及晶体缺陷的技术，广泛应用于材料、物理、生物、化学、光电子及纳米技术等领域。主要用途如下：
观察材料的内部显微结构，分析粒径、相组成、生长取向，分析晶体及晶界的缺陷等；
进行材料微区成分分析，及元素的线或面分布；
利用高角环形暗场像，可以观察轻重元素的分布。
技术指标
加速电压：200kV
电子枪：热场发射电子源，能量分辨率£0.7eV；
点分辨率：0 .24 nm；
信息分辨率：0 .14 nm；
线分辨率：0 .102 nm；
放大倍数：25～1,030,000倍
STEM高角环形暗场像分辨率：0 .19 nm；
X射线能谱仪的元素分析范围：Be4～U92
设备现状
正常
收费标准
400元/机时
管理员
陈国新
联系方式
0574- 86698420；gxchen@nimte.ac.cn
设备照片
