品名
透射电子显微镜(JEOL2100)
型号
JEOL2100 HR
制造商
日本JEOL公司
所属单位
中国科学院宁波材料技术与工程研究所
主要功能
透射电子显微镜主要用来研究各种材料的内部显微结构，可以从微米直到原子尺度对材料的形貌、界面及晶体缺陷等进行直接观察。TEM主要用来观察材料内部显微结构，分析粒径、相组成、生长取向，分析晶体及晶界的缺陷等。我所的 JEOL2100 透射电子显微镜配有牛津的能谱仪，可同时分析材料的显微结构和元素成分。目前透射电镜广泛应用于材料、物理、生物、化学、光电子及纳米技术等领域。
技术指标
电子枪： LaB6（六硼化镧）
点分辨率：0.23 nm
线分辨率：0.14 nm
加速电压：200kV
束斑尺寸：1.0-25 nm
放大倍数（高倍）：2000~1,500,000
放大倍数（低倍）：50~6,000
倾斜角：±30o
能谱分辨率：≤126 eV
设备现状
正常
收费标准
400元/机时
管理员
陈国新
联系方式
0574- 86698420；gxchen@nimte.ac.cn
设备照片
