单位检索
关键词检索

扫描探针显微镜(SPM)

品名

扫描探针显微镜(SPM)

型号

Dimension3100V

制造商

Veeco(美国)

所属单位

中国科学院宁波材料技术与工程研究所

主要功能

材料的微结构分析,材料表面形貌的观察,材质的定性分析,材料的磁筹以及导电性

技术指标

起伏度不超过1微米,材质较硬,Φ≤5cm

设备现状

正常

收费标准

普通形貌测试300元/机时                                                 

EFM、MFM、PFM、C-AFM、表面电势等400元/机时                                                 

管理员

魏艳萍

联系方式

0574- 86683700;weiyp@nimte.ac.cn

设备照片

附件下载:
版权所有2013 中国科学院上海材料与制造大型仪器区域中心
牵头单位:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
地址:上海市长宁路865号 | 邮 编:200050 | 电话:021-62511070