品名
场发射扫描电镜 (Field Emission Scanning Electron Microscope)
型号
S-4800
制造商
日本日立公司
所属单位
中国科学院宁波材料技术与工程研究所
主要功能
用于观察材料表面的微细形貌、断口及内部组织，并对材料表面微区成分进行定性和定量分析，主要用途如下：
1.金属、 陶瓷、混凝土、生物、高分子、矿物、纤维等无机或有机固体材料的断口、表面形貌、变形层等的观察；
2.材料的相分布和夹杂物形态成分的鉴定；
3.金属镀层厚度及各种固体材料膜层厚度的测定；
4.纳米材料及其它无机或有机固体材料的粒度观察和分析 ；
5.进行材料表面微区成分的定性和定量分析。
技术指标
1.二次电子分辨率：1.0nm (15kV)；
2.0nm (1kV)； 催化剂(Pt on C)
1.4nm (1kV减速模式) Catalyst(Pt on C)
2.背散射电子分辨率：3.0 nm (15 kV)
3.加速电压：0.5～30kV
4.电子枪：冷场发射电子源
5.放大倍率：30～800,000倍
6.X射线能谱仪的元素分析范围：Be4～U92
设备现状
正常
收费标准
形貌分析:300元/机时
蒸碳:50元/次
镀金:100元/次
镀铂:150元/次
成分分析:加收50元/样（点分析不超过4个区域；线扫描不超过3条线；面分布不超过2个区域）
管理员
陈惠锋
联系方式
0574-86685106；chenhuifeng@nimte.ac.cn
设备照片
