品名
光谱型椭偏仪
型号
M-2000DI
制造商
美国J.A.Woollam公司
所属单位
宁波材料技术与工程研究所
主要功能
用于单层或多层透明或半透明薄膜的厚度和光学常数（包括折射率、消光系数、光学介电常数、透过率和反射率）的测定，广泛应用于物理、化学、材料、生物、高分子、光学镀膜、太阳能电池、平板显示等领域的研究。
技术指标
● 波长范围：190~1700 nm
● 光谱分辨率：1.6 nm（波长小于1000 nm）；3.7 nm（波长大于1000 nm）
● 自动入射角范围：45~90度
● 自动样品台：150 mm*150 mm
● 旋转补偿器，Ψ可测范围0~90度，Δ可测范围0~360度
设备现状
正常
收费标准
开机费：200元，200元/nk曲线，100元/透射率或反射率曲线
管理员
梁凌燕
联系方式
0574-86688153，email：lly@nimte.ac.cn
设备照片
