设备名称:日本电子TEM
厂商:日本JEOL公司
型号:JEOL2100 HR
主要技术指标:
电子枪: LaB6(六硼化镧)
点分辨率:0.23 nm
线分辨率:0.14 nm
加速电压:200kV
束斑尺寸:1.0-25 nm
放大倍数(高倍):2000~1,500,000
放大倍数(低倍):50~6,000
倾斜角:±30o
能谱分辨率:≤126 eV
主要用途:
透射电子显微镜主要用来研究各种材料的内部显微结构,可以从微米直到原子尺度对材料的形貌、界面及晶体缺陷等进行直接观察。TEM主要用来观察材料内部显微结构,分析粒径、相组成、生长取向,分析晶体及晶界的缺陷等。我所的 JEOL2100 透射电子显微镜配有牛津的能谱仪,可同时分析材料的显微结构和元素成分。目前透射电镜广泛应用于材料、物理、生物、化学、光电子及纳米技术等领域。
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