设备名称：日本电子TEM
厂商：日本JEOL公司
型号：JEOL2100 HR
主要技术指标：
电子枪： LaB6（六硼化镧）
点分辨率：0.23 nm
线分辨率：0.14 nm
加速电压：200kV
束斑尺寸：1.0-25 nm
放大倍数（高倍）：2000~1,500,000
放大倍数（低倍）：50~6,000
倾斜角：±30o
能谱分辨率：≤126 eV
主要用途：
透射电子显微镜主要用来研究各种材料的内部显微结构，可以从微米直到原子尺度对材料的形貌、界面及晶体缺陷等进行直接观察。TEM主要用来观察材料内部显微结构，分析粒径、相组成、生长取向，分析晶体及晶界的缺陷等。我所的 JEOL2100 透射电子显微镜配有牛津的能谱仪，可同时分析材料的显微结构和元素成分。目前透射电镜广泛应用于材料、物理、生物、化学、光电子及纳米技术等领域。
